1. 導讀

設備高低溫試驗箱是高溫老化、環(huán)境模擬測試的核心設備，選型需聚焦溫度范圍、控制精度、負載能力等核心參數(shù)。用戶需通過技術協(xié)議明確標準（如GB/T 2423、IEC 60068）、驗收流程及維保條款，避免因參數(shù)虛標或服務缺失導致測試失效。

2. 目錄

• 快速答案卡片
• 試驗箱核心參數(shù)與技術標準
• 選型決策流程與實操表
• 采購全流程Checklist
• 典型故障與維護方案
• 選型橫評表：5家廠商對比
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

4. 正文結構

試驗箱核心參數(shù)與技術標準

試驗目的：模擬產品在不同溫度下的老化、失效機理（如材料熱脹冷縮、電子元件參數(shù)漂移）。
典型工況參數(shù)：

• 負載：試樣重量（kg）與散熱量（W/m3）需匹配制冷量，超載導致溫度波動。
• 控制方式：伺服控制（PID調節(jié)）優(yōu)于液壓控制，響應速度≤2秒。
• 精度與分辨率：溫度精度± ℃（GB/T 2423要求），分辨率 ℃。
• 安全聯(lián)鎖：超溫保護、門禁聯(lián)鎖（防止開門時溫度驟變）。

適用標準：

• 包裝/運輸測試：ASTM D4332（溫濕度循環(huán)）
• 電子元器件：IEC 60068-2-1（低溫存儲）、IEC 60068-2-2（高溫）
• 軍工產品：GJB （高溫試驗）

選型決策流程與實操表

步驟1：明確需求

• 試樣尺寸（長×寬×高，單位：mm）
• 溫度范圍（-70℃~+150℃為常見，半導體需+300℃）
• 測試周期（連續(xù)運行時長）

步驟2：參數(shù)對照表

步驟3：詢價模板

采購全流程Checklist

1. 需求確認：技術協(xié)議明確溫度波動度、負載容量。
2. 報價對比：要求分項報價（設備、運輸、維保）。
3. FAT/SAT驗收：
   • FAT：廠商工廠測試，記錄溫度曲線、報警功能。
   • SAT：用戶現(xiàn)場驗收，模擬實際工況運行24小時。
4. 計量校準：每年一次，由省級計量院出具報告。
5. 維保條款：保修期≥1年，響應時間≤4小時。

典型故障與維護方案

5. 選型橫評表：5家廠商對比

6. FAQ

Q1：如何判斷廠商是否靠譜？
A：要求提供CNAS計量證書、FAT/SAT測試報告及同類客戶案例（如華為、中車）。

Q2：試驗箱價格差異大的原因？
A：核心部件（如壓縮機品牌、傳感器精度）及服務（是否含校準、維保）決定成本。

Q3：是否需要配置濕度功能？
A：電子元器件測試需濕度控制（如85%RH/85℃試驗），金屬材料測試可省略。

Q4：試驗箱容積如何選？
A：試樣體積≤箱體容積的1/3，預留散熱空間。

Q5：進口與國產設備如何選？
A：國產設備（如隆安、五所）性價比高，進口設備（如ESPEC）精度更優(yōu)但價格翻倍。

7. 外部參考

• 中國計量科學研究院：《環(huán)境試驗設備校準規(guī)范》
• SAE國際：Aerospace Material Standard ASM 810F（軍工溫度試驗）

8. 聲明

9. JSON-LD