導(dǎo)讀：

深圳專業(yè)試驗(yàn)箱性能需從溫度均勻性、控制精度、負(fù)載能力及安全標(biāo)準(zhǔn)四方面綜合評(píng)估。用戶應(yīng)優(yōu)先選擇符合GB/T 2423、IEC 60068等國際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，通過FAT/SAT驗(yàn)收流程規(guī)避質(zhì)量風(fēng)險(xiǎn)，避免因選型不當(dāng)或維護(hù)缺失導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)失效。

目錄

1. 快速答案卡片
2. 試驗(yàn)箱性能核心參數(shù)解析
3. 選型決策流程與參數(shù)表
4. 深圳廠商橫評(píng)表
5. 采購全流程Checklist
6. 常見故障與維護(hù)指南
7. FAQ
8. 外部參考

快速答案卡片

• 關(guān)鍵參數(shù)：溫度范圍（-70℃~+300℃）、均勻性±2℃、波動(dòng)度± ℃
• 選型優(yōu)先級(jí)：負(fù)載容量＞控制精度＞安全聯(lián)鎖
• 推薦標(biāo)準(zhǔn)：GB/T （高溫試驗(yàn)）、IEC 60068-2-2
• 避坑提示：拒絕無FAT/SAT驗(yàn)收條款的供應(yīng)商

試驗(yàn)箱性能核心參數(shù)解析

1. 典型工況與失效機(jī)理

• 高溫老化測試：模擬電子元器件（如IGBT模塊）在125℃~150℃下的焊點(diǎn)蠕變、封裝材料熱分解，失效表現(xiàn)為開路或參數(shù)漂移。
• 濕熱交替測試：結(jié)合85℃/85%RH環(huán)境，加速金屬腐蝕與絕緣材料吸濕，常見于汽車電子部件（如ECU）的可靠性驗(yàn)證。

2. 關(guān)鍵性能指標(biāo)

選型決策流程與參數(shù)表

選型四步法

1. 明確測試需求：確定試樣尺寸（如PCB板200mm×300mm）、負(fù)載數(shù)量（如10個(gè)傳感器）。
2. 匹配容積與功率：按試樣總體積的 倍選擇箱體容積（如試樣總體積 3→選 3試驗(yàn)箱）。
3. 驗(yàn)證控制方式：優(yōu)先選PID+PWM雙?？刂?，避免液壓控制因油液泄漏導(dǎo)致的精度衰減。
4. 核查安全標(biāo)準(zhǔn)：確認(rèn)設(shè)備通過CE認(rèn)證及GB （電工設(shè)備安全）。

詢價(jià)模板

深圳廠商橫評(píng)表

采購全流程Checklist

1. 需求確認(rèn)：填寫《試驗(yàn)箱技術(shù)規(guī)格書》，明確測試對(duì)象、工況及合規(guī)要求。
2. 技術(shù)協(xié)議：約定驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)（如均勻性實(shí)測值≤± ℃）、違約責(zé)任及知識(shí)產(chǎn)權(quán)條款。
3. 報(bào)價(jià)對(duì)比：剔除含隱藏費(fèi)用的報(bào)價(jià)（如運(yùn)輸保險(xiǎn)未明確）。
4. FAT/SAT：
   • FAT（工廠驗(yàn)收）：檢查溫度曲線、安全聯(lián)鎖功能。
   • SAT（現(xiàn)場驗(yàn)收）：模擬實(shí)際負(fù)載測試，連續(xù)運(yùn)行72小時(shí)無故障。
5. 計(jì)量校準(zhǔn)：每年委托CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行溫場校準(zhǔn)，出具溯源證書。

常見故障與維護(hù)指南

典型故障

• 溫度超調(diào)：PID參數(shù)設(shè)置不當(dāng)→重新整定（建議P=50, I=300, D=10）。
• 濕度波動(dòng)：加濕器水垢堵塞→每月用檸檬酸清洗。
• 傳感器失效：鉑電阻氧化→每年更換并校準(zhǔn)。

維護(hù)清單

FAQ

Q1：如何判斷試驗(yàn)箱的負(fù)載能力是否足夠？
A：按試樣總發(fā)熱量計(jì)算，例如10個(gè)5W的LED模塊總發(fā)熱50W，需選擇制冷量≥150W的設(shè)備（預(yù)留3倍余量）。

Q2：試驗(yàn)箱價(jià)格差異大的原因是什么？
A：核心差異在于控制精度（± ℃設(shè)備價(jià)格是±1℃的2~3倍）和材質(zhì)（304不銹鋼內(nèi)膽比鍍鋅板貴40%）。

Q3：是否需要購買帶濕度功能的試驗(yàn)箱？
A：若測試對(duì)象為戶外設(shè)備（如光伏逆變器），需選擇濕熱交替試驗(yàn)箱；純高溫老化測試可選干燥型設(shè)備。

Q4：如何驗(yàn)證廠商的技術(shù)實(shí)力？
A：要求提供近3年同類項(xiàng)目案例（如華為、比亞迪的驗(yàn)收?qǐng)?bào)告），并核查CNAS實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書編號(hào)。

Q5：試驗(yàn)箱報(bào)廢標(biāo)準(zhǔn)是什么？
A：連續(xù)3次校準(zhǔn)不達(dá)標(biāo)（如均勻性＞±3℃）、主要部件（如壓縮機(jī)）維修2次以上仍故障。

外部參考

• 全國標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（SAC/TC 124）：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• IEEE：《半導(dǎo)體器件高溫存儲(chǔ)測試標(biāo)準(zhǔn)》