1. 導(dǎo)讀

2. 目錄

• 快速答案卡片
• ORT高溫老化房技術(shù)解析
  • 試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理
  • 關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)
• 選型決策流程與實(shí)操表
• 采購(gòu)全流程Checklist
• 選型對(duì)比表
• 常見故障與維護(hù)
• FAQ
• 外部參考

3. 快速答案卡片

• 核心參數(shù)：溫度范圍-50℃~+300℃，均勻性±2℃，負(fù)載密度≤50W/m3。
• 選型關(guān)鍵：試樣尺寸、控制方式（PLC/PID）、安全聯(lián)鎖（超溫/斷電保護(hù)）。
• 價(jià)格區(qū)間：小型（1m3）15萬(wàn)~30萬(wàn)，大型（20m3）80萬(wàn)~150萬(wàn)。
• 標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：IEC 60068-2-1（高溫試驗(yàn)）、GB/T （中國(guó)國(guó)標(biāo)）。

4. ORT高溫老化房技術(shù)解析

試驗(yàn)?zāi)康呐c失效機(jī)理

ORT（On-Reliability Test）高溫老化房通過(guò)模擬長(zhǎng)期高溫環(huán)境，加速產(chǎn)品（如PCB、電源模塊、電池）內(nèi)部材料熱老化，暴露潛在失效模式（如焊點(diǎn)虛焊、電解電容干涸、塑料變形）。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括：

• 電子元器件：檢測(cè)IC封裝、連接器在125℃下的熱循環(huán)壽命。
• 汽車電子：驗(yàn)證ECU在150℃艙內(nèi)溫度下的功能穩(wěn)定性。
• 航空航天：測(cè)試電路板在-55℃~+125℃交變溫度下的可靠性。

關(guān)鍵參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)

控制方式對(duì)比：

• PID控制：精度高（± ℃），適用于精密電子測(cè)試。
• PLC控制：支持多段程序升溫，適合汽車電子復(fù)雜工況。

5. 選型決策流程與實(shí)操表

選型決策流程

1. 需求確認(rèn)：試樣尺寸（長(zhǎng)×寬×高）、溫度曲線（恒溫/交變）、測(cè)試周期。
2. 參數(shù)匹配：根據(jù)負(fù)載密度計(jì)算所需功率（功率=負(fù)載密度×容積）。
3. 標(biāo)準(zhǔn)校驗(yàn)：確認(rèn)設(shè)備符合目標(biāo)市場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)（如出口產(chǎn)品需CE認(rèn)證）。
4. 廠商評(píng)估：要求提供第三方校準(zhǔn)報(bào)告（如CNAS認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室出具）。

詢價(jià)模板

6. 采購(gòu)全流程Checklist

7. 選型對(duì)比表

8. 常見故障與維護(hù)

• 故障1：溫度波動(dòng)超標(biāo)
  • 原因：加熱管老化、風(fēng)道堵塞。
  • 解決：更換加熱管，清理風(fēng)道濾網(wǎng)（每月1次）。
• 故障2：超溫報(bào)警誤觸發(fā)
  • 原因：傳感器校準(zhǔn)失效。
  • 解決：用標(biāo)準(zhǔn)溫度源重新校準(zhǔn)（每年1次）。

9. FAQ

Q1：ORT高溫老化房與HAST試驗(yàn)箱的區(qū)別？
A1：ORT側(cè)重長(zhǎng)期熱老化（數(shù)天至數(shù)月），溫度≤300℃；HAST（高壓加速老化）通過(guò)高溫高濕（130℃/85%RH）縮短測(cè)試周期至96小時(shí)。

Q2：如何驗(yàn)證設(shè)備溫度均勻性？
A2：在空載狀態(tài)下，布置9個(gè)以上溫度傳感器（中心及四角），運(yùn)行2小時(shí)后計(jì)算最大溫差，需符合標(biāo)準(zhǔn)要求（如±2℃）。

Q3：進(jìn)口設(shè)備與國(guó)產(chǎn)設(shè)備的選型建議？
A3：若測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)為國(guó)際認(rèn)證（如UL、CE），優(yōu)先選具備CNAS資質(zhì)的國(guó)產(chǎn)設(shè)備（成本低30%~50%）；若涉及極端工況（-70℃），可考慮進(jìn)口品牌（如ESPEC）。

10. 外部參考

• 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院：《環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備校準(zhǔn)規(guī)范》
• IEC國(guó)際電工委員會(huì)：IEC 60068系列標(biāo)準(zhǔn)