

隆安
2025-11-10 13:41:13
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老化房、試驗(yàn)箱、老化箱/柜 > 生產(chǎn)廠家
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試驗(yàn)箱高溫化冰時(shí)間需結(jié)合負(fù)載類型、試樣尺寸及控制精度綜合確定,通常建議30–120分鐘(50–80℃工況),具體需通過預(yù)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。選型時(shí)應(yīng)優(yōu)先關(guān)注溫度均勻性、安全聯(lián)鎖及標(biāo)準(zhǔn)符合性,避免因參數(shù)虛標(biāo)導(dǎo)致測(cè)試失效。
| 問題 | 答案 |
|---|---|
| 試驗(yàn)箱高溫化冰多久最佳? | 30–120分鐘(50–80℃工況),需根據(jù)負(fù)載類型、試樣尺寸預(yù)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。 |
| 關(guān)鍵選型參數(shù)? | 溫度范圍、控制精度、安全聯(lián)鎖、標(biāo)準(zhǔn)符合性(如IEC 60068-2-78)。 |
| 常見故障原因? | 溫度超調(diào)、傳感器失效、加熱元件老化、安全聯(lián)鎖誤觸發(fā)。 |
試驗(yàn)?zāi)康?/strong>:高溫化冰用于模擬產(chǎn)品在極端溫度環(huán)境下的解凍過程,驗(yàn)證材料形變、電氣性能穩(wěn)定性及結(jié)構(gòu)完整性。典型應(yīng)用場(chǎng)景包括汽車電子(低溫啟動(dòng)測(cè)試)、航空航天(部件解凍后的功能復(fù)現(xiàn))及消費(fèi)電子(電池低溫充電測(cè)試)。
失效機(jī)理:
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù):IEC 60068-2-78(環(huán)境試驗(yàn)-高溫試驗(yàn))要求,化冰階段需確保試樣表面溫度均勻性≤3℃,避免局部過熱。
| 參數(shù) | 解釋 | 推薦值 |
|---|---|---|
| 溫度范圍 | 箱體可達(dá)到的最高/最低溫度 | -70℃至+180℃(通用型) |
| 控制精度 | 實(shí)際溫度與設(shè)定值的偏差 | ±1℃(高精度型) |
| 升溫速率 | 室溫至最高溫的時(shí)間 | ≥3℃/min(避免熱沖擊) |
| 安全聯(lián)鎖 | 超溫、過載、門禁等保護(hù)功能 | 必須配置(IEC標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)制要求) |
| 廠商/型號(hào) | 溫度范圍 | 濕度范圍 | 容積 | 控制精度 | 符合標(biāo)準(zhǔn) | 附加特性 | 價(jià)格(萬元) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 重慶四達(dá) GDJS-100 | -70℃至+180℃ | 無 | 3 | ± ℃ | IEC 60068-2-78 | 遠(yuǎn)程監(jiān)控、數(shù)據(jù)追溯 | |
| 上海林頻 LW-80 | -60℃至+150℃ | 無 | 3 | ±1℃ | MIL-STD-810G | 應(yīng)急停機(jī)、門禁聯(lián)鎖 | 12 |
| ESPEC EHU-100(進(jìn)口) | -70℃至+200℃ | 無 | 3 | ± ℃ | ASTM D4332 | 多段編程、觸摸屏控制 | 25 |
Q1:高溫化冰時(shí)間是否越長越好?
A:否。時(shí)間過長可能導(dǎo)致試樣熱老化(如橡膠變脆),需通過預(yù)實(shí)驗(yàn)確定最短有效時(shí)間。
Q2:如何驗(yàn)證化冰效果?
A:使用紅外熱像儀檢測(cè)試樣表面溫度均勻性,或插入熱電偶記錄核心溫度。
Q3:進(jìn)口設(shè)備是否更可靠?
A:進(jìn)口設(shè)備(如ESPEC)控制精度更高,但國產(chǎn)設(shè)備(如重慶四達(dá))性價(jià)比更優(yōu),需根據(jù)預(yù)算選擇。
Q4:安全聯(lián)鎖失效怎么辦?
A:立即停機(jī),檢查門禁開關(guān)、超溫保護(hù)器及急停按鈕,更換故障元件后重新測(cè)試。
Q5:化冰階段是否需要通風(fēng)?
A:是。通風(fēng)可加速冰層融化,但需控制風(fēng)速≤1m/s,避免試樣位移。
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